Например TDA7294

 Форум РадиоКот • Просмотр темы - Методика калибровки мультиметров
Форум РадиоКот
Здесь можно немножко помяукать :)



Текущее время: Пн июл 24, 2017 06:15:29



Часовой пояс: UTC + 3 часа [ Летнее время ]




Начать новую тему Ответить на тему  [ Сообщений: 2274 ]  На страницу Пред.  1 ... 110, 111, 112, 113, 114
Автор Сообщение
Не в сети
 Заголовок сообщения: Re: Методика калибровки мультиметров
СообщениеДобавлено: Сб июл 15, 2017 09:15:40 
Родился

Зарегистрирован: Пт июл 14, 2017 20:04:45
Сообщений: 3
Рейтинг сообщения: 0
Я не знаю как должно быть, напишу, как есть. В1-18 прогреваем 1 сутки пр нему калибруем 34401 на 10.00000В. выключаем. Через сутки всё включаем обратно. Первая самокалибровка В1-18 0,5 часа на HP34401 - 9,99875В Ну и примерно через 6 часов получаем заветные 10,00000В. Далее дрейф +0.00001 в те же 6 часов. Вчера в 21.00 - 10.00000В, сегодня в 9.00 10.00004В. Вот это и хотелось бы исправить. Если это один из 2с108с, то их просто не купить, значит однозначно замена.Что посоветуете Михаил? По схеме ИОН выдаёт 13В. Может LM399 + OP97 ,или LTZ1000 заказывать и уже на ней огород городить?


Вернуться наверх
 Профиль  
 
Не в сети
 Заголовок сообщения: Re: Методика калибровки мультиметров
СообщениеДобавлено: Сб июл 15, 2017 10:25:19 
Держит паяльник хвостом

Карма: 33
Зарегистрирован: Чт сен 09, 2010 08:32:24
Сообщений: 952
Откуда: г. Рыбинск
Рейтинг сообщения: 0
Я бы начал не с хирургии, а с терапевтических методов. Подпаял бы к штырькам разъёма термостата 4 тонких медных скрученных провода (от витой пары): одну пару к 4 и 6 (первый стабилитрон), вторую пару соответственно к 5 и 2 (второй стабилитрон). Вывел провода наружу и с их помощью провёл мониторинг напряжения на стабилитронах в течении всего времени выхода на рабочий режим В1-18: в самом начале измерял бы почаще, через 5-10 минут, затем всё реже и реже. После этого будут видны все аномалии выхода на электрический и тепловой режим опорных стабилитронов, если таковые аномалии вообще имеют место быть.
Если проблема действительно в одном из 2С108С, то его можно (с некоторым ухудшением ТТХ) заменить на 2С108Р из состава меры В1-30 с выходом 6,4 В. Последнюю купить на вторичном рынке вполне реально и недорого. Иначе поможет только LTZ1000 с масштабирующим каскадом на ОУ. LM399 без длительного тестирования и отбора (как это делается производителем для того же 34401A) превратит калибратор в тыкву.


Вернуться наверх
 Профиль  
 
От идеи до готового устройства! Нужен только EasyEDA!

Бесплатный инструмент для проектирования печатных плат - нарисуй свою плату прямо сейчас!

Дешевле уже некуда: всего $2, за 10 ПП размером 10х10см!

Электронные компоненты: Экономия до 50%, бесплатная доставка при одновременном заказе печатной платы и компонентов!

Не в сети
 Заголовок сообщения: Re: Методика калибровки мультиметров
СообщениеДобавлено: Сб июл 15, 2017 11:01:17 
Родился

Зарегистрирован: Пт июл 14, 2017 20:04:45
Сообщений: 3
Рейтинг сообщения: 0
Спасибо Михаил, значит LTZ1000, ещё б знать, где купить, что б без прокола. в1-30 по цене как две LTZ и это с ухудшением параметров.


Вернуться наверх
 Профиль  
 

Не в сети
 Заголовок сообщения: Re: Методика калибровки мультиметров
СообщениеДобавлено: Сб июл 15, 2017 20:34:06 
Первый раз сказал Мяу!

Зарегистрирован: Ср фев 05, 2014 23:14:55
Сообщений: 27
Рейтинг сообщения: 0
nikodimus если этот прибор находится на предприятии, то могу посоветовать здесь купить http://www.optron.ru/electronic-components/61/337. Думаю, за такие деньги (просто огромные, да и сам прибор не дешёвый) можно будет рассчитывать на бесплатную доставку, хотя сомневаюсь, у меня сложилось ощущение, что там работают люди со времён совка. А если для себя, то с гарантией можно заказать с фирмы LT они там вроде 50$. Хотя, если не ошибаюсь, Михаил писал, что у него LTZ1000 тоже плыла, или я читал на английском сайте (уже точно не помню). А если совсем дёшево, это по цене, а не по времени, то можно купить много 1N829 и из них отобрать самые лучшие, благо хороший прибор у вас есть. На али я видел такие.


Вернуться наверх
 Профиль  
 

Не в сети
 Заголовок сообщения: Re: Методика калибровки мультиметров
СообщениеДобавлено: Сб июл 15, 2017 22:14:48 
Грызет канифоль

Зарегистрирован: Ср июн 15, 2016 18:20:29
Сообщений: 257
Рейтинг сообщения: 3
В пятницу саботировал свою работу в тихушку, путем прочитывания eevblog. показались интересными слова одного итальянца (вроде) который делал выборку из пары сотен LTZ купленных с linear, С любопытным результатом: Если мы считаем что рассортировав эту кучу мы получим распределение типа "шляпа" То это верно отчасти , результат получился сегментирован где наиболее удачные части изьяты.. Опечалившись, он заказал 5, как пробники - результат превосходный ..... Так то вот. Заказывать надо "А" как образцы с ремаркой лабораторный тест для замены бла бла - могут прислать и бесплатно 2 штуки ...

Похоже мой LM399, затормозился, прошлая суббота было 10.00034. Сегодняшняя суббота те же цифры, где то более 2000 часов во включенном состоянии. В общем, да, неизвестный источник деталей неизвестный результат. Оставшимся сделал промывку мозгов, цикл: кипяток, морозильник раз 10, затем в коробку от ботинок, туда-же БП лаптоп, пусть в углу до нового года живут.

Одна из идей в моей голове это измерение компенсацией, можно ловить доли микровольт и смотреть изменение относительной величины за достаточно короткий период. Но для этого нужно опорное с минимальным дрифтом. Распространенная идея это запаралелить много-много и получить супер-супер. Вот один из гуру просто разбил супер идею вдребезги, идея базируется на ошибочном концепте что все дрифтит одинаково разно-направленно, в реалии все ползет в одну сторону (к краю пропасти 8) 8)) . Т.Е. купив 100 диодов, результат не будет в 100 раз лучше, и в SQRT(100) раз не будет. Из его личной практики наиболее ожидаемый результат: все 100 диодов соберутся в стаю и задрифтят в одном направлении. Самое главное это предсказательное поведение скорости дрифта, чем оно точнее тем точнее можно предсказать абсолютную величину, какой она будет завтра, или через месяц... НО первичный вариант: иметь множество самых различных образцов напряжений , которые характеризованы между собой, из этого количества можно достаточно точно предсказать абсолютное значение .

В процессе производства диода ( интересно, тут технологи есть, пусть меня поправят\ закидают помидорами) сам кристалл испытывает множественные нагрузки от тех. процесса, это и химия, кислоты, и механические, резка вафли на кусочки. Причем резать можно ножовкой, получаем механические деформации сколы, так и лазером, термические деформации.. Все это ведет к остаточным напряженность в кристалле, как пример закаленное стекло ( которое разбивается на определенные кусочки), явно видно как свет преломляться, то же самое и в кристалле внутренние напряженности меняют свойства для прохождения электронов. Внутренние напряженности со временем меняются что вызывает изменение параметров диода. Если на вафли создавать огромные кристаллы и травить маленькую схему в центре - это значительно ослабит влияние напряженностей от резки на долговременный параметры диода ( LTZ как пример). Но затраты соответственно ... кристаллы с центра вафли получаются заведомо более высокого качества, и тут уже можно сортировать по буквам. Мы взяли готовую вафлю и выпилили из нее кристалл для диода - он совершенен, как Аполлон, как древнеримская Мемезидра на терракотовой тарелке (сам придумал!) так вот, ему безразличны нагревания и охлаждения, и высокие рабочие температуры, у него нет внутренних напряжений которые изменят его поведение, но если они есть и их много то температурные флуктуации освободят \ изменят эти напряжения , и соответственно параметры.

_________________
Чайник отличается от кофейника умом и сообразительностью.


Вернуться наверх
 Профиль  
 
Не в сети
 Заголовок сообщения: Re: Методика калибровки мультиметров
СообщениеДобавлено: Пн июл 17, 2017 09:32:27 
Родился

Зарегистрирован: Чт июн 19, 2014 23:35:06
Сообщений: 17
Рейтинг сообщения: 5
Я ни разу не технолог, но думаю здесь больше влияют диффузионные процессы.
Не случайно при увеличении температуры на каждые 10 °С скорость диффузии в металлах увеличивается в 2 раза.
Прямая корреляция со сроком службы микросхем.
Т.е. при всяческих термопрогонах не только снимаются остаточные напряжённости, но и размываются локальные неравномерности переходов.
Ну а со временем переходы настолько расплываются, что деградируют.
И чем ниже (мельче) техпроцесс, тем ниже срок службы.


Вернуться наверх
 Профиль  
 
Не в сети
 Заголовок сообщения: Re: Методика калибровки мультиметров
СообщениеДобавлено: Пн июл 17, 2017 17:18:22 
Грызет канифоль

Зарегистрирован: Ср июн 15, 2016 18:20:29
Сообщений: 257
Рейтинг сообщения: 0
все что выше, собрано с блога,
как мое личное мнение: многие термостатированные чипы (тот же ЛМ399 +85C) трудятся более 30 лет , и ничего не размылось, думаю нельза переносит процессы тяжелой металлургии на диффузионный процессы v кремний

_________________
Чайник отличается от кофейника умом и сообразительностью.


Вернуться наверх
 Профиль  
 
Не в сети
 Заголовок сообщения: Re: Методика калибровки мультиметров
СообщениеДобавлено: Пн июл 17, 2017 18:03:21 
Опытный кот
Аватар пользователя

Карма: 15
Зарегистрирован: Вт мар 31, 2015 23:56:07
Сообщений: 820
Откуда: Мы люди простые, живем в лесу, на пенек молимся
Рейтинг сообщения: 0
как мое личное мнение: думаю нельза переносит процессы тяжелой металлургии на диффузионный процессы v кремний

В суждении упущен ключевой параметр: размер техпроцесса.

_________________
Изображение


Вернуться наверх
 Профиль  
 
Не в сети
 Заголовок сообщения: Re: Методика калибровки мультиметров
СообщениеДобавлено: Пн июл 17, 2017 21:16:19 
Вымогатель припоя

Карма: 16
Зарегистрирован: Пн окт 07, 2013 11:03:09
Сообщений: 664
Откуда: Адлер
Рейтинг сообщения: 0
Не случайно при увеличении температуры на каждые 10 °С скорость диффузии в металлах увеличивается в 2 раза.
Прямая корреляция со сроком службы микросхем.
Ну а со временем переходы настолько расплываются, что деградируют.
И чем ниже (мельче) техпроцесс, тем ниже срок службы.

пора собирать термостаты наоборот, модули пельтье в помощь! ;)
думаю нельза переносит процессы тяжелой металлургии на диффузионный процессы v кремний

процессы те же, просто скорость иная..
старые полупровода(40+ лет) зачастую уже не соответствуют паспортным параметрам по шумам, токам утечек, обратным напряжениям, усилению..наверняка есть зависимость отказов от исходной чистоты материалов и используемых техпроцессов.
неоднократно лично сталкивался с деградировавшими туннельными диодами в осциллографах(работают в "тепличных" режимах), приборам 30+ лет, некоторые с мин наработкой. так и замену тоже проблемно подобрать - "новые" приблизительно того же возраста.
заброшены попытки использовать слежавшийся годами германий даже в простейших схемах автоматики( порой выяснялись неожиданные неисправностям элементов, к примеру: h21э нового транзистора =4, по норме - от 25, может изначальный брак, а возможно и последствия дифф. процессов)
"Коэффициент диффузии D зависит от природы и структуры вещества. Он пропорционален подвижности и носителей и абсолютной температуре Т кристалла.
Поскольку подвижность электронов больше подвижности дырок, то и коэффициент диффузии для электронов всегда больше, чем для дырок. Например, в германии коэффициент диффузии электронов при комнатной температуре в два раза больше коэффициента диффузии дырок, а в кремнии - в три раза."
Поляков А.М. 'Разгаданный полупроводник' - Москва: Просвещение, 1981


Вернуться наверх
 Профиль  
 
Не в сети
 Заголовок сообщения: Re: Методика калибровки мультиметров
СообщениеДобавлено: Вт июл 18, 2017 11:03:21 
Родился

Зарегистрирован: Чт июн 19, 2014 23:35:06
Сообщений: 17
Рейтинг сообщения: 0
Поскольку подвижность электронов больше подвижности дырок, то и коэффициент диффузии для электронов всегда больше, чем для дырок.


Это не про диффузию металлов pn переходов, а про рекомбинацию носителей.
Но про старые приборы всё правильно.
Ещё добавлю - в металлических, стеклянных, керамических корпусах срок жизни полупроводников больше.
Нет диффузии водорода и воды сквозь пластик. Меньше сказывается изменение атмосферного давления (и соответственно проникновение\выход газов в кристалле).
Ещё очень сильно зависит от чистоты техпроцесса. Т.к. для разных атомов скорость диффузии в кремнии различается на порядки!
И если что-то при изготовлении приборов не доотмыли\не досушили - то срок жизни может существенно сократиться.


Вернуться наверх
 Профиль  
 
Не в сети
 Заголовок сообщения: Re: Методика калибровки мультиметров
СообщениеДобавлено: Вт июл 18, 2017 17:28:40 
Вымогатель припоя

Карма: 16
Зарегистрирован: Пн окт 07, 2013 11:03:09
Сообщений: 664
Откуда: Адлер
Рейтинг сообщения: 0
речь, как понял, про дифф процессы в результате теплового движения носителей.


Вернуться наверх
 Профиль  
 
Не в сети
 Заголовок сообщения: Re: Методика калибровки мультиметров
СообщениеДобавлено: Вт июл 18, 2017 19:45:22 
Грызет канифоль

Зарегистрирован: Вс июл 21, 2013 17:24:58
Сообщений: 297
Откуда: Юг Руси.
Рейтинг сообщения: 0
manowar, по поводу сроков службы старых полупроводников - возможно Вы в чём-то правы,но вот практика - попал мне недавно
в ремонт С1-65 (без А). 1974 года выпуска.Неисправность заключалась в том,что оборвался один проводок,идущий из жгута
к одному из контактов силового транса.Чего ему одному поплохело - хз (отгнил?).Подпаял - всё заработало.Решил проверить
параметры.По длительности проверял сигналом от китайского кварцованного функционального генератора,по амплитуде -
внутренним калибратором (нет у меня ничего точнее). Конечно,сначала отбалансировал по вертикали и чуть-чуть подкрутил
баланс по горизонтали. Всё. Больше ничего не крутил.
Итог - всё идеально,все совпадает с линиями сетки.На всех пределах,и по амплитуде и по длительности. Луч яркий,тонкий,
одно удовольствие смотреть на такую осциллограмму.Синхронизирует тоже прекрасно.
А ведь прибору почти 44 года,и он битком набит германиевыми транзисторами ГТ311,313,пополам с туннельными диодами.
Причём внимательно смотрел на платы,на предмет ремонтов кривыми руками - ничего не увидел,пайки все заводские,
или очень похожие на оные. А вот снаружи - сразу видно,что прибору немало доставалось в его долгой и нелёгкой жизни.
Весь покарябанный, и пыли в нем было не меньше полкилограмма.По словам хозяина - он и в мастерской у него работал,
не выключаясь весь день,и таскал он его по разным шабашкам... В общем,разнообразная и веселая жизнь у прибора была.
Вот так бывает. А Вы говорите - срок службы. :wink:
ПС. И к тому же,если прибор поработает 4-5,и более часов,особенно летом - сказать про него "хорошо тёплый" - это мягко
сказано.И это снаружи. А внутри? А там сплошной германий.


Вернуться наверх
 Профиль  
 
Не в сети
 Заголовок сообщения: Re: Методика калибровки мультиметров
СообщениеДобавлено: Ср июл 19, 2017 09:55:49 
Вымогатель припоя

Карма: 16
Зарегистрирован: Пн окт 07, 2013 11:03:09
Сообщений: 664
Откуда: Адлер
Рейтинг сообщения: 0
никто не говорит о повальной необходимости слива приборов в помойку. построение схем там с глубокой ос, а шумы транзисторов в тракте вы наврядли заметите. по тем же туннельникам - пачку переберёшь, прежде чем синхра начнёт срабатывать на уровнях от 0.2-0.3 деления.
пользуя подобные детали просто нужно быть готовым к возникающим дефектам, а для себя вывод сделан.


Вернуться наверх
 Профиль  
 
Не в сети
 Заголовок сообщения: Re: Методика калибровки мультиметров
СообщениеДобавлено: Ср июл 19, 2017 22:41:07 
Мучитель микросхем

Карма: 13
Зарегистрирован: Сб авг 15, 2015 20:11:26
Сообщений: 488
Откуда: Коломна, М.О. - Воронеж.
Рейтинг сообщения: 0
Все зависит от качества/культуры производства,технологической дисциплины и задумок производителя )). Не видел ни одного вышедшего из строя интеловского процессора,ни даже не слышал об этом от своих коллег,однако чипсеты интеловские мрут достаточно часто,без нарушений условия эксплуатации. Что касается деградации полупроводникового перехода- моим очень опытным коллегой-радиолюбителем замечен следующий факт: Деградация параметров СВЧ мощных транзисторов (снижение выходной мощности и падение усиления),причем именно пролежавших в коробке много лет.У работающих экземпляров такого не наблюдалось. Партии транзисторов-одни,это по результатам приборометрических исследований. Но СВЧ-это другая история-тонкие затворы и базы.....А так-на наш век хватит,не стоит об этом беспокоится. КТ315 1969г.в. вполне успешно работают.Я предпочитаю компоненты "секонд хэнд",дергаю из доноров. Они заведомо рабочие. Да и не подделка,коих сейчас ну очень много.Качество компонентов и изделий из них в последние годы существенно упало. Причина- https://ru.wikipedia.org/wiki/%D0%9F%D0 ... 0%B8%D0%B5 и максимальное снижение себестоимости изделия. Производитель может,но не будет делать товары с длительным сроком эксплуатации-не заинтересован он в этом.Бизнес,ничего личного )))
Сталкиваюсь на работе с этим каждый день.


Вернуться наверх
 Профиль  
 
Показать сообщения за:  Сортировать по:  Вернуться наверх
Начать новую тему Ответить на тему  [ Сообщений: 2274 ]  На страницу Пред.  1 ... 110, 111, 112, 113, 114



Часовой пояс: UTC + 3 часа [ Летнее время ]


Кто сейчас на форуме

Сейчас этот форум просматривают: нет зарегистрированных пользователей и гости: 4


Вы не можете начинать темы
Вы не можете отвечать на сообщения
Вы не можете редактировать свои сообщения
Вы не можете удалять свои сообщения
Вы не можете добавлять вложения

Найти:
Перейти:  


Powered by phpBB © 2000, 2002, 2005, 2007 phpBB Group
Русская поддержка phpBB
Extended by Karma MOD © 2007—2012 m157y
Extended by Topic Tags MOD © 2012 m157y