[uquote="TIGR",url="/forum/viewtopic.php?p=4321813#p4321813"]Более продвинутая версия ТТ.
Конденсатор 1пФ.[/uquote]
А подтверждение пикофарадности конденсатора, или доки на
конкретный этот ТТ будут? Замерять на пределе разрешающей способности - имхо, такое себе занятие. У цифровых приборов же есть неприятная постоянная погрешность в младшем значащем разряде. Толку от точности, если МЗР может плавать в районе пяти единиц?
Вот для примера, мой ТТ gm328 (уж не помню, откуда он, но точно "не оригинал").
Замер двух кондёров с брахолки, с точностью "ну примерно 10%"
2пф параллельно, то есть 4пф. Показывает 2пф. Казалось бы, почти вин, "всего" 50%
Спойлер
Но, как в одном анекдоте, есть нюанс. Открываем
http://www.mikrocontroller.net/articles/AVR-Transistor
И читаем черным по белому:
Capacitors in the range 35pF (picofarad) to 100mF (millifarad) can be measured with a resolution down to 1 pF.
Конденсаторы в диапазоне 35пф...100мФ (100000мкФ) могут быть измерены с разрешением вплоть до 1пф.
Хорошо, тут ни слова про точность. Открываем юзер мануал на той же странице, в русской и английской версии:
https://raw.githubusercontent.com/Mikro ... tester.pdf
https://raw.githubusercontent.com/Mikro ... tester.pdf
А сейчас, магия кривого перевода. В русскоязычной версии документации прописано следующее:
При тактовой частоте 16МГц можно получить точность до 0,01пф
Это НЕВЕРНЫЙ перевод слова resolution, что значит "разрешающая способность".
Читаем английскую версию мануала:
Спойлер
Very low capacity values can be measured with the samplingADC method.
For analysing the same load pulse is repeated many times and the voltage is monitored with the
time shift of the ADC S&H time using interval-tics build from the processor clock. But a complete
AD conversion take 1664 processor tics! Up to 250 ADC samples are build by this way and from
the voltage curve the capacity value is computed. If the samplingADC function is selected in the
Makefile, all capacitors with less than 100pF are measured with the samplingADC function in the
capacitor-meter mode [C]. The resolution is up to 0.01pf with a clock frequency of 16MHz. The
calibrated condition is difficult to build with this high resolution. You can assume the use of the
samplingADC methode every time, fractions of 1pF are displayed at the screen
Нужная нам часть:
Разрешающая способность до 0.01пф при тактирующей частоте 16МГц...Если на экране отображается значение с долями пф, значит можно констатировать использование метода samplingADC.
Видим ли мы на экране те самые "доли пф"? нет. Для интереса, я скрутил дисплей, и действительно, около мк кварц на 8МГц. А это значит, что метод замера тот же, что и для обычных емкостей, то есть:
With little capacity values the
470kΩ resistors are used for the measurement the time to reach a threshold voltage.
Или
Для небольших значений емкостей используются резисторы
470kΩ, измеряется время до достижения порогового напряжения.
Можете почитать английский мануал, параграф "5.3.4 Measurement of very small capacity values with the sampling technique", там более подробно про метод замера мелких емкостей. Меня лично смущает приписка в конце про работу с частотой тактирования 8МГц и про потерю разрешения, и т.к. 0,0х пф я не вижу на экране, я предполагаю, что и метод данный не используется при замере. Так же можно видеть, что точность не указана для емкостей менее 35пф в параграфе "5.3.10 Results of Capacitor measurement", где указана примерная точность замеров в сравнении с PeakTech 2170 (который сам по себе имеет предел 200пф и точность 0,3% на 0,01% предела (в нашем случае, 0,6пф, то есть даже поверочный прибор не смог бы подтвердить замер единиц пикофарад)).
В итоге, о каком точном измерении пикофарад транзистор тестером идёт речь? У этих измерений нет точности. Если на экранчике напишут 1,0055пф, при замере трубчатого кондера 5%, вы скажете, что ТТ уделывает специализированные заводские мостовые RLC?
[/uquote]
Керамика 2.2пФ +-0.4. 
