[uquote="igogo",url="/forum/viewtopic.php?p=4378677#p4378677"]Меню есть. C+ESR пункт тоже есть. Даже использовал его. Но нигде не встречал описания что он предназначен именно для внутрисхемного измерения. Никак не мог понять зачем он сделан.[/uquote]
igogo,
sonpul
Есть полный мануал на русском языке,в котором автор подробно с картинками,рисунками,осциллограммами,примерами измерений как в Мурзилке разжевал все нюансы работы устройства,в том числе упомянут и режим C+ESR.
https://disk.yandex.by/d/yW8xa5NJgUo5z/ ... übbeler%20
Если лень читать и искать,то вот цитата с 43-й стр:
"C+ESR@TP1:3 Дополнительной функцией «C+ESR@TP1:3» можно выбрать отдельное из-
мерение ёмкости и ESR конденсаторов с помощью тестовых контактов TP1 и TP3. Кон-
денсаторы от 2мкФ до 50mF могут быть измерены. Поскольку напряжение измерения
составляет лишь около 300mV, в большинстве случаев конденсатор может быть измерен
непосредственно в схеме без предварительного демонтажа."
Естественно,что калибровку девайса необходимо выполнять с подключенными внешними щупами(пинцетом).
У автора другой альтернативной прошивки - Маркуса Решке специально для этих целей предусмотрена возможность сохранения настроек калибровки для 3-х различных профилей. У Карла-Хайнца пока такой возможности нет,поэтому нужно перекалибровывать девайс перед замерами на штатных контактах или пинцете. Поскольку защита измерительных портов контроллера в клоне практически отсутствует,для пинцета и внутрисхемных замеров очень желательно сделать простую защиту портов хотя бы на 2-х диодах. Примеров в инете полно.