Итак, сначала замечание для тех кто знает "Транзистортестер". Это замечательное устройство, подкупающее своей простотой обмеряет достаточное число параметров (хвала ПП мастерским Микрочипа за столь стабильный кристалл ATMega). Во многих случаях это достаточно (так думают те господа, которым делают замечания "офтопик!!!" ) Но и, в тоже время, эти обмеры категорически недостаточны для компонентов и узлов самих измерительных приборов и быстрых схем. Очень давно я пытался (повод диплом 1991г.) сделать очень похожее на транзистортестер устройство, но с добавкой измерения частотных свойств (стробоскопическая часто (скоп) и, хотя не доделал до релиза, встретив транзистор тестер вспомнил план). А сейчас речь зашла о еще более тонких свойствах компонентов, выдающих их, так сказать, технологию производства. Ток утечки обратно смещенного перехода, свойство подзатворного диэлектрика.
И, это актуально не только для дискретных компонентов, но для схем на кристалле, любой степени интеграции.
Приглашаю в тему.
"A textbook can be defined as a book unsuitable for reading" (B. Shaw)
Tautology is humor in "this" place (Vigo Carpathian)








